Capturing Spatially Varying Anisotropic Reflectance Parameters using Fourier Analysis - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Capturing Spatially Varying Anisotropic Reflectance Parameters using Fourier Analysis

Alban Fichet
Models and Algorithms for Visualization and Rendering
Imari Sato
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 980935
National Institute of Informatics
Nicolas Holzschuch
Models and Algorithms for Visualization and Rendering
CV

Résumé

Reflectance parameters condition the appearance of objects in photorealistic rendering. Practical acquisition of reflectance parameters is still a difficult problem. Even more so for spatially varying or anisotropic materials, which increase the number of samples required. In this paper, we present an algorithm for acquisition of spatially varying anisotropic materials, sampling only a small number of directions. Our algorithm uses Fourier analysis to extract the material parameters from a sub-sampled signal. We are able to extract diffuse and specular reflectance, direction of anisotropy, surface normal and reflectance parameters from as little as 20 sample directions. Our system makes no assumption about the stationarity or regularity of the materials, and can recover anisotropic effects at the pixel level.

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Synthèse d'image et réalité virtuelle [cs.GR]
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Soumis le : vendredi 10 juin 2016-20:03:37

Dernière modification le : samedi 21 décembre 2024-03:20:33

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Dates et versions

hal-01302120 , version 1 (14-04-2016)
hal-01302120 , version 2 (10-06-2016)

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Citer

Alban Fichet, Imari Sato, Nicolas Holzschuch. Capturing Spatially Varying Anisotropic Reflectance Parameters using Fourier Analysis. Graphics Interface Conference 2016, Jun 2016, Victoria, BC, Canada. pp.65-73, ⟨10.20380/GI2016.09⟩. ⟨hal-01302120v2⟩

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