Capturing Spatially Varying Anisotropic Reflectance Parameters using Fourier Analysis
Résumé
Reflectance parameters condition the appearance of objects in photorealistic
rendering. Practical acquisition of reflectance parameters
is still a difficult problem. Even more so for spatially varying
or anisotropic materials, which increase the number of samples required.
In this paper, we present an algorithm for acquisition of
spatially varying anisotropic materials, sampling only a small number
of directions. Our algorithm uses Fourier analysis to extract
the material parameters from a sub-sampled signal. We are able to
extract diffuse and specular reflectance, direction of anisotropy, surface
normal and reflectance parameters from as little as 20 sample
directions. Our system makes no assumption about the stationarity
or regularity of the materials, and can recover anisotropic effects at
the pixel level.
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