Minimisation des coûts de détection de pannes à partir des coupes minimales du diagramme de fiabilité - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Access content directly
Conference Papers Year : 2001

Minimisation des coûts de détection de pannes à partir des coupes minimales du diagramme de fiabilité

Daoud Ait-Kadi
  • Function : Author
Jinsheng Gao
  • Function : Author

Abstract

Nous considérons un système complexe et nous supposons qu'il vient de tomber en panne. Le critère à minimiser est l'espérance mathématique du coût de détection de la panne qui vient de survenir. Les données dont nous disposons sont, outre le diagramme de fiabilité du système, la probabilité de panne de chaque composant et le coût du test permettant de vérifier si un composant est en panne ou fonctionne normalement. Pour résoudre ce problème, nous construisons la séquence de tests des composants en nous appuyant sur les coupes minimales du diagramme de fiabilité. Nous rappelons la procédure polynomiale connue dans le cas où les coupes minimales sont indépendantes. Nous étendons cette méthode (sans garantie d'optimalité) au cas où il y a des redondances de composants dans les coupes minimales. Nous obtenons ainsi une procédure de test dynamique. Nous examinons également le cas statique où la séquence de tests est fixée a priori.
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Dates and versions

inria-00100422 , version 1 (26-09-2006)

Identifiers

  • HAL Id : inria-00100422 , version 1

Cite

Daoud Ait-Kadi, Jinsheng Gao, Marie-Claude Portmann. Minimisation des coûts de détection de pannes à partir des coupes minimales du diagramme de fiabilité. 3ème Conférence Francophone de MOdélisation et SIMulation "Conception, Analyse et Gestion des Systèmes Industriels" - MOSIM'01, UT Troyes, 2001, Troyes, France, pp.781-787. ⟨inria-00100422⟩
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