Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique Access content directly
Conference Papers Year : 2013

Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs

Abstract

no abstract
No file

Dates and versions

hal-01057165 , version 1 (21-08-2014)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01057165 , version 1

Cite

Emna Bel-Kamel, Etienne Perret, Arnaud Vena, Smail Tedjini. Utilisation de la technologie RFID chipless pour la mesure de déformation de réflecteurs. 18èmes Journées Nationales Microondes, May 2013, Paris, France. ⟨hal-01057165⟩
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