Spectrométrie d'émission d'ions secondaires - SPCSI Access content directly
Lectures Year : 2023

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS, Scanning Ion Microscope SIM, Secondary Neutral Mass Spectrometry SNMS (via post-ionisation).

Spectrométrie d'émission d'ions secondaires

Abstract

Analyse des ions secondaires (masse/charge) produits par pulvérisation ionique de la surface de l’échantillon.
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Spectrométrie d emission d ions secondaires.pdf (384.7 Ko) Télécharger le fichier
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Dates and versions

hal-04487573 , version 1 (03-03-2024)

Identifiers

  • HAL Id : hal-04487573 , version 1

Cite

Ludovic Douillard. Spectrométrie d'émission d'ions secondaires. Master. Université Paris-Saclay, France, France. 2023. ⟨hal-04487573⟩
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