BRDF Measurements and Analysis of Retroreflective Materials - Inria - Institut national de recherche en sciences et technologies du numérique
Article Dans Une Revue Journal of the Optical Society of America Année : 2014

BRDF Measurements and Analysis of Retroreflective Materials

Résumé

We compare performance of various analytical retroreflecting BRDF models to assess how they reproduce accurately measured data of retroreflecting materials. We introduce a new parametrization, the back vector parametrization, to analyze retroreflecting data and we show that this parametrization better preserves the isotropy of data. Furthermore, we update existing BRDF models to improve the representation of retroreflective data.

Domaines

Synthèse d'image et réalité virtuelle [cs.GR] Optique [physics.optics] Instrumentations et Détecteurs [physics.ins-det]
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Romain Pacanowski  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

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Soumis le : mardi 6 janvier 2015-10:21:46

Dernière modification le : mercredi 13 novembre 2024-10:34:02

Archivage à long terme le : mercredi 3 juin 2015-17:11:09

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Dates et versions

hal-01083366 , version 1 (06-01-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01083366 , version 1

Citer

Laurent Belcour, Romain Pacanowski, Marion Delahaie, Aude Laville-Geay, Laure Eupherte. BRDF Measurements and Analysis of Retroreflective Materials. Journal of the Optical Society of America, 2014, JOSA A, 31 (12), pp.2561-2572. ⟨hal-01083366⟩

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